□特点：
■硬铝材质精密加工，表面阳极氧化染黑
■采用进口高精度交叉滚柱导轨，精度更高，承载较大，寿命长
■高精度基座和台面**台子的直线度，偏摆，俯仰，运动平行度
■位移调整采用测微头或差动测微头驱动
■高精度小分辨率测微头**产品在纳米级的微位移调整
■测微头在平移台侧向放置，结构更加紧凑
■采用弹簧复位，消除轴向间隙
■台面和底座分布标准孔距的安装孔，方便安装和组合
■可与其它系列位移台组成多维调整架
■可加装光栅尺显示移动微小位移量
□技术参数：
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型号 |
JH-SP-13-40CH |
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台面尺寸 |
40mm×40mm |
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驱动方式 |
测微头 |
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驱动位置 |
侧向驱动 |
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行程 |
13mm |
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**小刻度 |
10μ/0.5μ |
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精度 |
3μ/1.5μ |
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**小调整量 |
(参考)2μ/0.1μ |
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导轨形式 |
交叉滚柱导轨 |
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承载 |
8kg |
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直线度 |
2μ |
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偏摆 |
25″ |
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俯仰 |
15″ |
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台面平行度 |
15μ |
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运动平行度 |
7μ |
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自重 |
0.24kg |
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材料 |
硬铝 |
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表面处理 |
阳极氧化染黑 |
